

气流冲击 热流仪精度:±0.5℃速度:10second跨度:-80 - 250℃用途:本设备适用于半导体芯片,闪存Flash/EMMC,PCB电路板,IC光通讯等电子行业进行IC特性分析,高低温循环测试,温度冲击测试,失效分析等可靠性试验。
| 品牌 | FURUYA DENKI |
|---|---|
| 型号/系列 | 定制 |
| 产品名称 | FURUYA DENKI(古屋电气)气流冲击 热流仪定制 |
| 分类 | 环境测试设备 |
| 订货编码 | 定制 |
| 产地 | 日本 |
气流冲击 热流仪精度:±0.5℃速度:10second跨度:-80 - 250℃用途:本设备适用于半导体芯片,闪存Flash/EMMC,PCB电路板,IC光通讯等电子行业进行IC特性分析,高低温循环测试,温度冲击测试,失效分析等可靠性试验。
适用于工业自动化设备、设备维修备件、产线改造、进口件替代、MRO 采购和工程选型场景。具体工况请结合品牌、型号、安装尺寸、接口和电气参数确认。
可协助确认原厂型号、同系列产品、替代型号、停产型号升级件、铭牌识别、图片寻源和非标定制需求。
如原型号停产、交期较长或价格波动,可提交品牌、型号、铭牌照片、设备应用和数量,由古屋电气协助评估替代方向。
提交询价气流冲击 热流仪
精度:±0.5℃
速度:10second
跨度:-80 - 250℃
用途:
本设备适用于半导体芯片,闪存Flash/EMMC,PCB电路板,IC光通讯等电子行业进行IC特性分析,高低温循环测试,温度冲击测试,失效分析等可靠性试验。
请提供品牌、型号、数量、使用行业、铭牌照片或旧件照片,古屋电气将协助确认供货、交期和替代可能性。
可以,可补充产品图片、铭牌、安装尺寸、接口、电压、功率、设备型号和应用场景。
可以,需要核对参数、安装尺寸、接口、精度、认证和现场工况,确认后再推荐替代方向。