Vaisala k-Patents®分号折光仪PR-33-S对于半导体液体化学过程半导体液体化学过程的超纯修饰PTFE流动池的紧凑型折射仪。通过¼-1英寸的支柱或耀斑配件连接到该过程。VAISALA K-PATENTS®分号折光仪PR-33-S监测Fab Chemicals在清洁室环境和集成工艺工具中的浓度（混合，清洁，蚀刻和CMP）。PR-
| 品牌 | VAISALA |
|---|---|
| 型号/系列 | PR-33-S |
| 产品名称 | VAISALA（维萨拉） Vaisala k-Patents®分号折光仪 PR-33-S |
| 分类 | 分析仪器 |
| 订货编码 | PR-33-S |
| 产地 | 芬兰 |
Vaisala k-Patents®分号折光仪PR-33-S对于半导体液体化学过程半导体液体化学过程的超纯修饰PTFE流动池的紧凑型折射仪。通过¼-1英寸的支柱或耀斑配件连接到该过程。VAISALA K-PATENTS®分号折光仪PR-33-S监测Fab Chemicals在清洁室环境和集成工艺工具中的浓度（混合，清洁，蚀刻和CMP）。PR-
适用于工业自动化设备、设备维修备件、产线改造、进口件替代、MRO 采购和工程选型场景。具体工况请结合品牌、型号、安装尺寸、接口和电气参数确认。
可协助确认原厂型号、同系列产品、替代型号、停产型号升级件、铭牌识别、图片寻源和非标定制需求。
如原型号停产、交期较长或价格波动，可提交品牌、型号、铭牌照片、设备应用和数量，由古屋电气协助评估替代方向。
提交询价半导体液体化学过程的超纯修饰PTFE流动池的紧凑型折射仪。通过¼-1英寸的支柱或耀斑配件连接到该过程。
VAISALA K-PATENTS®分号折光仪PR-33-S监测Fab Chemicals在清洁室环境和集成工艺工具中的浓度（混合，清洁，蚀刻和CMP）。
PR-33-S由一个超纯的，修改的PTFE流动池和任何标准POE（电力范围内的）开关都可以用来将电源传输到传感器和数据到计算机的以太网电缆。PR-33-S实时监测化学浓度，并提供以太网输出信号和立即反馈，如果化学不合格。例如，低浓度警报可能被配置为控制和增加浴室寿命。通过对溶液的折射率和温度进行光学测量来确定浓度。
PR-33-S用耀斑或柱子的配件直接安装在线安装。PR-33-S具有紧凑的无金属结构，只需要一个小的占地面积。
请提供品牌、型号、数量、使用行业、铭牌照片或旧件照片，古屋电气将协助确认供货、交期和替代可能性。
可以，可补充产品图片、铭牌、安装尺寸、接口、电压、功率、设备型号和应用场景。
可以，需要核对参数、安装尺寸、接口、精度、认证和现场工况，确认后再推荐替代方向。
