KEYENCE（基恩士）干涉式同轴 3D 位移测量仪 WI-5000 系列 WI-5000 系列
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KEYENCE（基恩士）干涉式同轴 3D 位移测量仪 WI-5000 系列 WI-5000 系列
干涉式同轴 3D 位移测量仪WI-5000 系列采用白光干涉原理，可实现高速、高精度的3D测量。支持从高度差/体积测量等的测量到宽度/面积等各种测量。并非以点线测量，而是以“面”进行测量针对最大 10 × 10 mm 的测量区域，可瞬间获取 8 万个点的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材质/颜色、死角的影响，实现了微米级的高精度测量。
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面议 (税率:13%)
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产品参数
| 品牌 | KEYENCE |
|---|---|
| 型号/系列 | WI-5000 系列 |
| 产品名称 | KEYENCE（基恩士）干涉式同轴 3D 位移测量仪 WI-5000 系列 |
| 分类 | 传感器 |
| 订货编码 | WI-5000 系列 |
| 产地 | 日本 |
简短介绍
干涉式同轴 3D 位移测量仪WI-5000 系列采用白光干涉原理，可实现高速、高精度的3D测量。支持从高度差/体积测量等的测量到宽度/面积等各种测量。并非以点线测量，而是以“面”进行测量针对最大 10 × 10 mm 的测量区域，可瞬间获取 8 万个点的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材质/颜色、死角的影响，实现了微米级的高精度测量。
应用行业
适用于工业自动化设备、设备维修备件、产线改造、进口件替代、MRO 采购和工程选型场景。具体工况请结合品牌、型号、安装尺寸、接口和电气参数确认。
可供应范围
可协助确认原厂型号、同系列产品、替代型号、停产型号升级件、铭牌识别、图片寻源和非标定制需求。
替代件与停产型号解决方案
如原型号停产、交期较长或价格波动，可提交品牌、型号、铭牌照片、设备应用和数量，由古屋电气协助评估替代方向。
提交询价干涉式同轴 3D 位移测量仪
采用白光干涉原理，可实现高速、高精度的3D测量。支持从高度差/体积测量等的测量到宽度/面积等各种测量。
并非以点线测量，而是以“面”进行测量
针对最大 10 × 10 mm 的测量区域，可瞬间获取 8 万个点的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材质/颜色、死角的影响，实现了微米级的高精度测量。
在线实现高速全数检测
测量多点时，需要高精度且高速扫描目标物。 因此，会将时间浪费在移动载物台上，不易进行全数检测。 由于 WI-5000 系列是以面进行同时测量，因此可大幅缩短测量时间，实现全数检测。
大幅削减离线检测工时
为了用于离线检测，备有可固定传感器头的专用底座。 配备可削减检测工时的各种实用功能。 改善从简易测量到保存数据等各种情况的可操作性。
FAQ
KEYENCE（基恩士）干涉式同轴 3D 位移测量仪 WI-5000 系列 WI-5000 系列 如何确认能否供货？
请提供品牌、型号、数量、使用行业、铭牌照片或旧件照片，古屋电气将协助确认供货、交期和替代可能性。
型号不完整可以询价吗？
可以，可补充产品图片、铭牌、安装尺寸、接口、电压、功率、设备型号和应用场景。
停产或交期长时可以找替代件吗？
可以，需要核对参数、安装尺寸、接口、精度、认证和现场工况，确认后再推荐替代方向。